赵施奈德测 量仪器 / SKM / 3D复合式坐标 测量仪 SKM

3D复合式坐标 测量仪 SKM

产品型号 / SKM系列

格:SKM 250-400
介:杰出的光学 系统,图像处理采用高分辨率的CCD摄像机,复 合式系统的模块式设计原理
产品详细资 料:
复杂的高精 度元件已成为世界工业领域的趋势。很小的微米级公差成为当今的标准。施奈德博士测量技术生产的3D复合式坐标 测量仪 可完全满足这种质量要求。
SKM系列的复合 式坐标测量系统除了传统的光学探头(光学放大物镜)外,还可配备接触式触头系统以及激光无接触触头系统,在光学探头的基础上,用户可以根据需要选择其中的一种或全部触头系统作为附加测量系统。接触式触头系统可分为 Renishaw触发式(开 关式)TP200及扫描式( 测量式)SP600,SP25。另外,垂 直的激光触头特别适合於小孔测量。
  精密的花岗 石机座,包括高度(Z轴)调整装 置
  高精度测台 :金属测台,表面镀镍,滚针轴承导轨
  三轴金属光 栅,数显精度0.0001mm
  高分辨率黑※※ 白CCD摄像机
  远焦光路LED透射光源
  环行LED表面光源
  三轴CNC伺服电机控 制系统
  高配置控制 和测量计算机
  正版Windows XP操作系统
  高精度1.5x远焦平场物 镜
  3D测量及数据 处理软件Saphir基础功能

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型号 SKM250 SKM300 SKM400
测量范围 X mm 250 300 400
Y mm 125 200 300
Z mm 200 200 200
物镜 远焦平场
放大倍数 1x   3x   5x
视场 mm 4x3   2x1.5   1.2x0.9
工作距离 mm 80   80   50
最大运行速 度 mm/s 300
最大加速度 mm/s 400
数显分辨率 mm 0.0001
测轴CNC控制 3轴,可扩充※※※ 为5轴
測台最大承重 (ca.)kg 20
长度测量不 确定度 E1=(1.0+L/300mm)μm 测量长度L(mm)
DIN EN ISO 10360-2 E2=(2.0+L/300mm)μm 测量长度L(mm)
VDI/VDE 2617 E3=(2.8+L/300mm)μm测量长度L(mm)
W mm 800 1000 1200
仪器尺寸(ca.) D mm 900 1110 1400
H mm 1800 1800 1900
重量(ca.) kg 600 700 900
电源 220V-240VAC,   50-60Hz,   1kW
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